[[こみみ雑学集]]
* 絶縁抵抗試験
平常温度上昇試験の前・後において、DC500Vの絶縁抵抗計により、充電部と器
体の表面との間の絶縁抵抗を測定したとき、1MΩ以上であることを確認する。

これにより、温度上昇試験の前と後でどれだけ絶縁抵抗が変化しているか、その絶縁抵抗
値では製品に人が触っても安全か、また製品が絶縁破壊する心配がないかを確認する。

* 絶縁耐圧試験
平常温度上昇試験の直後に行う絶縁抵抗試験の後、充電部と器体の表面との間に、定
格電圧が150V以下の場合1000V、150Vを超える場合は1500Vの交流電
圧を連続して1分加えたとき、これに耐えることを確認する。

同じ部位に所定の電圧を印加し絶縁破壊の有無を確認すればよい。


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