[[こみみ雑学集]] * 絶縁抵抗試験 平常温度上昇試験の前・後において、DC500Vの絶縁抵抗計により、充電部と器 体の表面との間の絶縁抵抗を測定したとき、1MΩ以上であることを確認する。 これにより、温度上昇試験の前と後でどれだけ絶縁抵抗が変化しているか、その絶縁抵抗 値では製品に人が触っても安全か、また製品が絶縁破壊する心配がないかを確認する。 * 絶縁耐圧試験 平常温度上昇試験の直後に行う絶縁抵抗試験の後、充電部と器体の表面との間に、定 格電圧が150V以下の場合1000V、150Vを超える場合は1500Vの交流電 圧を連続して1分加えたとき、これに耐えることを確認する。 同じ部位に所定の電圧を印加し絶縁破壊の有無を確認すればよい。