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[[こみみ雑学集]]
**USB2.0 HS/FS/LS規格認定について
USB-IF(USB Implementers Forum, Inc. : USBの仕様を策定した企業7社が設立した非営利団体)が認証プログラム(USB-IF Compliance Program)を提供しているので、それに適合する必要がある。認証プログラムはコンプライアンス・テストとチェックリスト審査の2つから構成される。これに合格した製品は、USB-IFのWebサイトにあるIntegrators Listとよばれる認証製品リストに登録され、USB-IFのオフィシャルロゴを表示することができる。
USB-IF(USB Implementers Forum, Inc. : USBの仕様を策定した企業7社が設立した非営利団体)が認証プログラム(USB-IF Compliance Program)を提供しているので、それに適合する必要があります。認証プログラムはコンプライアンス・テストとチェックリスト審査の2つから構成されます。これに合格した製品は、USB-IFのWebサイトにあるIntegrators Listとよばれる認証製品リストに登録され、USB-IFのオフィシャルロゴを表示することができます。
テストは年に数回行われるワークショップ(USB-IF会員のみ参加可)に参加するか、規格認定試験機関(日本だと XXCAL JAPAN)にテストを代行してもらう方法があります。
認定プログラムは
- チェックリスト:http://www.usb.org/developers/compliance/
- コンプライアンス・テスト : http://www.usb.org/developers/tools/
にあります。
**USBロゴが使用できるようになるまで
+ USB-IFからVendor IDを取得する
+ コンプライアンス・テストとチェックリスト審査の両方に合格する
+ 製品がIntegrators Listに掲載され、USBロゴが使用可能になる
*** Vendor ID
認証プログラムを受けるにはVendor IDが必要です。Vendor IDは
+ USB-IFにメンバーシップとして入会する($4,000)
+ USB-IFのロゴライセンス契約に署名する($2,000)
+ Vendor ID発行料金を支払う($2,000)
の3つの方法がある。
*** チェックリスト
*** その他
|LS(Low Speed)|1.5Mbps|
|FS(Full Speed)|12Mbps|
|HS(High Speed)|480Mbps|
Design Wave2004_1に詳細情報あり?かも。
** High Speed専用コンプライアンス試験
+ 波形品質テスト
-- 信号の品質をあいパターンを中心に評価する。
--- Overall Result (総合評価)
--- Signal Eye (アイパターン評価)
--- EOP width (EOP幅評価)
--- Receivers (5段ハブでの動作確認)
--- Measured signaling rate (クロックレート評価)
+ CHIRPテスト
-- Hi-SpeedのUSBデバイスは最初はFull Speedで接続され、その後High-Speedに切り替わるので、この切り替わりのタイミングやJKモードの状態、JKモードの振幅を測定評価する。
--- Full Speed モードまたはリセット状態のデバイスのCHIRPハンドシェーク送信まで時間が2.5μs 以上、3ms以下であること。
--- CHIRP Kの状態が1ms以上、7ms以下であること。
--- ハブの評価の場合、CHIRP K状態になってから2.5μs以内にデバイスのCHIRP状態を確認すること(TFILT)。
--- 正しいCHIRP KJKJKJを検出できること。
--- CHIRP KJKJKJ 検出後、500μs以内に1.5Kプルアップ抵抗を切り離し、HSターミネーションを状態を確立すること。
+ パケットパラメーターテスト
-- SYNCフィールドの長さ、EOPの幅、パケット間の間隔などを測定する。
---32 ビットのSync Field で始まっていること
---8 ビットの EO(NRZ の 01111111)
---ホストとデバイスのパケット間のギャップが8ビット以上、192ビット以下である こと
---レシーバーがビットスタフエラーをEOP と認識できること
+ Suspend / Resume / Resetテスト
-- ハイスピードの状態変化のタイミングテスト。
--- 規定Suspend時間 3ms <-> 3.125ms
--- 規定Resume時間 <3.000ms
--- 規定Reset時間 3.1ms <-> 6ms
+ TDRテスト
-差動インピーダンスマッチングを評価
--- ハイスピードトランシーバーの差動出力インピーダンス測定:規定値 90Ω±10%
--- ハイスピードトランシーバーの差動終端インピーダンス測定:規定値80Ω~100Ω
--- ハイスピードトランシーバーのスルーインピーダンス測定:規定値70Ω~110Ω
+ レシーバーセンシティビティー&スケルチテスト
-- 被測定USB機器が規定の査証感度電圧の150mV以上で正確に反応し且つ100mV以下では反応しないか、DUTのセンシティビティーを測定する。
--- 150mV以上の差動振幅の信号を受けたとき、スケルチ状態にならない事の測定(パケットを受け取った状態)。ただし、±50mV の Waiver(許容範囲)あり。
--- 100mV以下の差動振幅の信号を受けたとき、スケルチ反応を起こす事の測定(パケットを受け取っていない状態)。ただし、±50mV の Waiver(許容範囲)あり。
---“送信エンベロープディテクター”の速度が、HSレシーバーがデータの送信を発見、DLLロックの確立、SYNCフィールドの最後を12ビット時間内に確認できるのに十分高速である事の測定
+ J / K /NAK_0 Voltageテスト
-- D+/D‐に流れる信号の電圧を細かく測定する。
--- Full Speed モードまたはリセット状態のデバイスのChIRPハンドシェーク送信まで時間が2.5μs 以上、3ms以下であること。
--- 45Ω抵抗でグラウンドされているいて且つD+ 又は D-が High の状態のときの出力電圧を測定(規定値:400mV±10%)
--- 45Ω抵抗でグラウンドされているいて且つD+ 又は D-が Lowの状態のときの出力電圧を測定(規定値:0V±10mV)
*** 参考
- http://www.xxcal.co.jp/standard-2.htm
- http://jp.tm.agilent.com/tmo/usbweb/usbweb.html