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[[こみみ雑学集]] **USB2.0 HS/FS/LS規格認定について USB-IF(USB Implementers Forum, Inc. : USBの仕様を策定した企業7社が設立した非営利団体）が認証プログラム(USB-IF Compliance Program)を提供しているので、それに適合する必要があります。認証プログラムはコンプライアンス・テストとチェックリスト審査の２つから構成されます。これに合格した製品は、USB-IFのWebサイトにあるIntegrators Listとよばれる認証製品リストに登録され、USB-IFのオフィシャルロゴを表示することができます。 テストは年に数回行われるワークショップ(USB-IF会員のみ参加可)に参加するか、規格認定試験機関(日本だと XXCAL JAPAN)にテストを代行してもらう方法があります。 認定プログラムは - チェックリスト：http://www.usb.org/developers/compliance/ - コンプライアンス・テスト : http://www.usb.org/developers/tools/ にあります。 **USBロゴが使用できるようになるまで + USB-IFからVendor IDを取得する + コンプライアンス・テストとチェックリスト審査の両方に合格する + 製品がIntegrators Listに掲載され、USBロゴが使用可能になる *** Vendor ID 認証プログラムを受けるにはVendor IDが必要です。Vendor IDは + USB-IFにメンバーシップとして入会する($4,000) + USB-IFのロゴライセンス契約に署名する($2,000) + Vendor ID発行料金を支払う($2,000) の３つの方法がある。 *** チェックリスト *** その他 |LS(Low Speed)|1.5Mbps| |FS(Full Speed)|12Mbps| |HS(High Speed)|480Mbps| Design Wave2004_1に詳細情報あり？かも。 ** High Speed専用コンプライアンス試験 + 波形品質テスト -- 信号の品質をあいパターンを中心に評価する。 --- Overall Result （総合評価） --- Signal Eye （アイパターン評価） --- EOP width （EOP幅評価） --- Receivers （5段ハブでの動作確認） --- Measured signaling rate （クロックレート評価） + CHIRPテスト -- Hi-SpeedのUSBデバイスは最初はFull Speedで接続され、その後High-Speedに切り替わるので、この切り替わりのタイミングやJKモードの状態、JKモードの振幅を測定評価する。 --- Full Speed モードまたはリセット状態のデバイスのCHIRPハンドシェーク送信まで時間が2.5μs 以上、3ms以下であること。 --- CHIRP Kの状態が1ms以上、7ms以下であること。 --- ハブの評価の場合、CHIRP K状態になってから2.5μs以内にデバイスのCHIRP状態を確認すること（TFILT）。 --- 正しいCHIRP KJKJKJを検出できること。 --- CHIRP KJKJKJ 検出後、500μs以内に1.5Kプルアップ抵抗を切り離し、HSターミネーションを状態を確立すること。 + パケットパラメーターテスト -- SYNCフィールドの長さ、EOPの幅、パケット間の間隔などを測定する。 ---32 ビットのSync Field で始まっていること ---8 ビットの EO（NRZ の 01111111） ---ホストとデバイスのパケット間のギャップが8ビット以上、192ビット以下である こと ---レシーバーがビットスタフエラーをEOP と認識できること + Suspend / Resume / Resetテスト -- ハイスピードの状態変化のタイミングテスト。 --- 規定Suspend時間 3ms <－> 3.125ms --- 規定Resume時間 ＜3.000ms --- 規定Reset時間 3.1ms <－> 6ms + TDRテスト 差動インピーダンスマッチングを評価 -- ハイスピードトランシーバーの差動出力インピーダンス測定：規定値 90Ω±10% -- ハイスピードトランシーバーの差動終端インピーダンス測定：規定値80Ω～100Ω -- ハイスピードトランシーバーのスルーインピーダンス測定：規定値70Ω～110Ω -差動インピーダンスマッチングを評価 --- ハイスピードトランシーバーの差動出力インピーダンス測定：規定値 90Ω±10% --- ハイスピードトランシーバーの差動終端インピーダンス測定：規定値80Ω～100Ω --- ハイスピードトランシーバーのスルーインピーダンス測定：規定値70Ω～110Ω + レシーバーセンシティビティー＆スケルチテスト -- 被測定USB機器が規定の査証感度電圧の150mV以上で正確に反応し且つ100mV以下では反応しないか、DUTのセンシティビティーを測定する。 --- 150mV以上の差動振幅の信号を受けたとき、スケルチ状態にならない事の測定（パケットを受け取った状態）。ただし、±50mV の Waiver（許容範囲）あり。 --- 100mV以下の差動振幅の信号を受けたとき、スケルチ反応を起こす事の測定（パケットを受け取っていない状態）。ただし、±50mV の Waiver（許容範囲）あり。 ---“送信エンベロープディテクター”の速度が、HSレシーバーがデータの送信を発見、DLLロックの確立、SYNCフィールドの最後を12ビット時間内に確認できるのに十分高速である事の測定 + J / K /NAK_0 Voltageテスト -- D＋／D‐に流れる信号の電圧を細かく測定する。 --- Full Speed モードまたはリセット状態のデバイスのChIRPハンドシェーク送信まで時間が2.5μs 以上、3ms以下であること。 --- 45Ω抵抗でグラウンドされているいて且つD+ 又は D－が High の状態のときの出力電圧を測定（規定値：400mV±10%） --- 45Ω抵抗でグラウンドされているいて且つD+ 又は D－が Lowの状態のときの出力電圧を測定（規定値：0V±10mV） *** 参考 - http://www.xxcal.co.jp/standard-2.htm - http://jp.tm.agilent.com/tmo/usbweb/usbweb.html
